كريستوف جيربر

كريستوف جيربر هو فيزيائي سويسري، ولد في 15 مايو 1942 في بازل في سويسرا.[1][2][3]

كريستوف جيربر
 

معلومات شخصية
الميلاد 15 مايو 1942 (80 سنة) 
بازل 
مواطنة سويسرا 
الحياة العملية
المدرسة الأم جامعة بازل 
المهنة فيزيائي،  وأستاذ جامعي 
مجال العمل فيزياء 
موظف في جامعة بازل 
الجوائز
زمالة الجمعية الأمريكية الفيزيائية  
جائزة كافلي 

مراجع

  1. Binnig, G.؛ Quate, C. F.؛ Gerber, Ch. (1986)، "Atomic Force Microscope"، Physical Review Letters، 56 (9): 930، doi:10.1103/PhysRevLett.56.930، PMID 10033323.
  2. "Physics category list"، ISIHighlyCited.com، مؤرشف من الأصل في 07 مارس 2013، اطلع عليه بتاريخ 18 مايو 2012.
  3. Giessibl, F. J. (1991)، "A low-temperature atomic force/scanning tunneling microscope for ultrahigh vacuum"، Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures، 9 (2): 984، doi:10.1116/1.585441.
  • بوابة أعلام
  • بوابة الفيزياء
  • بوابة سويسرا
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.