Spectralon

Le Spectralon est un nom déposé par la société Labsphere. C'est le fluoropolymère avec la plus grande réflexion diffuse parmi les matériaux et revêtements connus, de l'ultraviolet au proche infra rouge en passant par le visible[1]. Il possède une haute réflexion lambertienne et peut être usiné en une grande variété de formes pour la construction de composants optiques, tel des cibles d'étalonnage, des sphères d'intégration ou des cavités de pompage pour laser[1]^,[2]^,[3].

Un panneau de Spectralon

Historique

Le spectralon a été développé par Labsphere et est disponible depuis 1986[4].

Références

Georgi T. Georgiev et James J. Butler, « Long-term calibration monitoring of Spectralon diffusers BRDF in the air-ultraviolet », Applied Optics, vol. 46, n^o 32,‎ 10 novembre 2007, p. 7893 (DOI 10.1364/AO.46.007892, lire en ligne)
Albert E. Stiegman, Carol J. Bruegge et Arthur W. Springsteen, « Ultraviolet stability and contamination analysis of Spectralon diffuse reflectance material », Optical Engineering, vol. 32, n^o 4,‎ 1^er avril 1993, p. 799 (DOI 10.1117/12.132374, lire en ligne)
Kenneth J. Voss et Hao Zhang, « Bidirectional reflectance of dry and submerged Labsphere Spectralon plaque », Applied Optics, vol. 45, n^o 30,‎ 2006, p. 7924–7927 (PMID 17068529, DOI 10.1364/AO.45.007924, lire en ligne)
(en) Dennis H. Goldstein, « Polarimetric characterization of Spectralon », Polarization Signature Research, Air Force Research Laboratory, Munitions Directorate,‎ février 2003, p. 16 (lire en ligne)

Liens externes

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[Georgiev-1] Georgi T. Georgiev et James J. Butler, « Long-term calibration monitoring of Spectralon diffusers BRDF in the air-ultraviolet », Applied Optics, vol. 46, n^o 32,‎ 10 novembre 2007, p. 7893 (DOI 10.1364/AO.46.007892, lire en ligne)

[2] Albert E. Stiegman, Carol J. Bruegge et Arthur W. Springsteen, « Ultraviolet stability and contamination analysis of Spectralon diffuse reflectance material », Optical Engineering, vol. 32, n^o 4,‎ 1^er avril 1993, p. 799 (DOI 10.1117/12.132374, lire en ligne)

[Voss-3] Kenneth J. Voss et Hao Zhang, « Bidirectional reflectance of dry and submerged Labsphere Spectralon plaque », Applied Optics, vol. 45, n^o 30,‎ 2006, p. 7924–7927 (PMID 17068529, DOI 10.1364/AO.45.007924, lire en ligne)

[4] (en) Dennis H. Goldstein, « Polarimetric characterization of Spectralon », Polarization Signature Research, Air Force Research Laboratory, Munitions Directorate,‎ février 2003, p. 16 (lire en ligne)