Vecteur de test

En informatique et en génie informatique, un système agit comme une fonction calculable. Un exemple d'une fonction précise pourrait être ${\displaystyle y=f(x)}$ où ${\displaystyle y}$ constitue l'extrant d'un système et ${\displaystyle x}$ est l'intrant ; toutefois, la majorité des systèmes ne sont pas à unidimensionnels. Quand les intrants sont multi-dimensionels, on peut représenter le système par la fonction ${\displaystyle y=f(x_{1},x_{2},...)}$ ; on peut généraliser cette équation sous cette forme : ${\displaystyle Y=C(X)}$ où ${\displaystyle Y}$ est le résultat produit par l'exécution du système, ${\displaystyle C}$ appartient à l'ensemble des fonctions calculables et ${\displaystyle X}$ est un vecteur d'intrants. Lorsqu'un système est testé, on peut lui fournir différents vecteurs de test pour étudier son comportement, c'est-à-dire ses extrants.

Les vecteurs de test pour les puces électroniques devraient imiter des situations réelles, mais c'est en pratique difficile[2]. Au moins un chercheur juge que les vecteurs de test sont insuffisants de par leur nature parce que les signaux en entrées des circuits électroniques testés s'influencent mutuellement, alors que l'une des hypothèses posées lorsqu'un vecteur de test est conçu est qu'ils sont indépendants les uns des autres[3].

(en) Cet article est partiellement ou en totalité issu de la page de Wikipédia en anglais intitulée « Test vector » (voir la liste des auteurs).

• (en) Test Vector Guidelines [PDF]
• (en) Test Vector Considered Harmful [PDF]

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